晶圓測試探針卡電路板
- 探針卡電路板搭配測試機（ATE）與Prober對晶片上的每個晶粒進行針測，領智電路可以制作生產(chǎn)探針卡測試電路板 、半導體測試負載電路板、半導體老化測試電路板，提供快速樣品/批量加工。...
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產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品名稱：晶圓測試探針卡電路板
板材型號：TU-872
產(chǎn)品層數(shù)：24L電路板
成品板厚：5mm
成品銅厚：1oz
表面處理：鍍金
最小孔徑：0.1mm
最小線距：0.25mm
最小線寬：0.075mm
特殊工藝：阻抗，高多層，HDI
應用領域：晶圓測試
晶圓測試（Chip Probing）是半導體生產(chǎn)過程中必不可少的關鍵關節(jié)，探針卡（Probe Card）將數(shù)以萬計的微米級探針集成到一塊PCB板上，搭配測試機（ATE）與Prober對晶片上的每個晶粒進行針測，探針卡電路板通常作為Loadboard的物理接口，在某些情況下ProbeCard通過插座或者其它接口電路附加到Loadboard上，從而判斷芯片的良好程度。領智電路是一家提供高精密高TG電路板生產(chǎn)加工廠家，可以制作生產(chǎn)探針卡測試電路板 、半導體測試負載電路板、半導體老化測試電路板，提供快速電路板樣品/批量加工制作。
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